聯系電話:13813388142
歡迎訪問奧達科學有限公司網站!
您的位置: 網站首頁 >> 產品中心 >> SEM In-situ >> Heating > 原位加熱加電TKD 樣品臺

原位加熱加電TKD 樣品臺

產品型號: 更新時間: 2022-04-01
DENSsolutions TKD 樣品臺可以讓用戶在掃描電子顯微鏡 (SEM) 或聚焦離子束 (FIB) 內進行原位加熱和/或電學實驗。

產品概述

DENSsolutions TKD 樣品臺可以讓用戶在掃描電子顯微鏡 (SEM) 或聚焦離子束 (FIB) 內進行原位加

熱和/或電學實驗。

該平臺允許 SEM 和 FIB 用戶使用 TKD(同軸/離軸)或傳統 EBSD 技術進行原位微結構表征。 特別

是對于 TEM 用戶,該平臺允許用戶在 SEM 內進行相對快速的初步原位樣品表征,以便為進一步的

TEM 實驗開發工作流程,從而節省寶貴的 TEM 時間。

技術參數:

1.       *電極數:8電極(可同時加熱和加電)

2.       *金屬加熱絲,非陶瓷材料,升溫降溫速度快,即是熱導材料,又是熱敏材料,其電阻與溫度有良好的線性關系。金屬加熱絲是被SiN包裹,不與樣品發生反應。

3.       *溫度范圍:高溫芯片:室溫到1100℃,超高溫芯片:室溫到 1300℃,熱電一體芯片:室溫到 900℃。

4.       *溫度穩定性:加熱到 1300℃時,只有 < 0.01℃的溫度變化

5.       *加熱控制方式:四電極法閉合回路控制和反饋環境溫度

6.       *最高電場:300kV/cm(室溫-900℃)

7.       *最高工作電壓: 150V(室溫-900℃)

8.       最小的檢測電流:pA范圍

9.      溫度精確度:≥95%

10.    溫度均勻度:≥99.5%

兼容性:

SEM/FIB 設備探測器

• Zeiss Ultra and Gemini

• FEI (TF)* Nove NanoSem 600

(ESEM) & Helios G4 plasma FIB

• JEOL 4600

*可能需要樣品臺適配器

探測器

• Bruker Optimus On-axis TKD探測器

• Oxford Symmetry EBSD探測器


留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
分享到:
奧達科學有限公司
版權所有©2022 奧達科學有限公司 備案號:
  • 掃一掃,關注我們

狠狠色噜噜狠狠狠狠97_中国熟妇xxxx性裸交_一区二区免费高清观看国产丝瓜_国产精品熟女高潮视频_大尺度激烈床震视频大全 <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链>
掃一掃訪問手機站掃一掃訪問手機站
訪問手機站